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二次离子质谱（SIMS）能够对金属材料进行深度剖析，精确分析材料表面及内部不同深度处的元素组成和同位素分布。该技术通过用高能离子束轰击金属样品表面，使表面原子溅射出来并离子化，然后通过质谱仪对二次离子进行分析。在半导体制造中，对于金属互连材料，SIMS 可用于检测金属薄膜中的杂质分布以及金属与半导体界面处的元素扩散情况，这对于提高半导体器件的性能和可靠性至关重要。在金属材料的腐蚀研究中，SIMS 能够分析腐蚀产物在材料表面和内部的分布，深入了解腐蚀机制，为开发更有效的腐蚀防护方法提供依据。
超声波探伤是一种广泛应用于金属材料内部缺陷检测的无损检测技术。其原理是利用超声波在金属材料中传播时，遇到缺陷（如裂纹、气孔、夹杂物等）会发生反射、折射和散射的特性。探伤仪产生高频超声波，并通过探头将其传入金属材料内部，然后接收反射回来的超声波信号。根据信号的特征，如反射波的幅度、传播时间等，判断缺陷的位置、大小和形状。超声波探伤具有检测灵敏度高、检测速度快、对人体无害等优点。在航空航天领域，对金属结构件进行超声波探伤至关重要。例如飞机的机翼、机身等关键部件，在制造和使用过程中，通过定期的超声波探伤检测，能及时发现内部可能存在的微小缺陷，避免这些缺陷在飞机飞行过程中扩展导致严重的安全事故，保障飞机的飞行安全。
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